小兒驚厥并發(fā)癥
1.腦損傷
(1)腦損傷可以引起驚厥，
同時(shí)驚厥發(fā)作也可造成腦損傷。有相關(guān)的數(shù)據(jù)表明，一次驚厥發(fā)作對近記憶力有一過性影響，相當(dāng)于腦震蕩所致?lián)p害;驚厥持續(xù)狀態(tài)可產(chǎn)生嚴(yán)重腦損害，而致智力低下，嚴(yán)重的熱性驚厥可遺留神經(jīng)系統(tǒng)的后遺癥。
(2)腦損傷和年齡也有密切關(guān)系。
小兒驚厥持續(xù)30分鐘以上就可以產(chǎn)生神經(jīng)元缺血性改變，相比成人，則需要超過6小時(shí)才發(fā)生這種改變。原因是嬰幼兒時(shí)期腦組織代謝活躍，神經(jīng)細(xì)胞處于生長、分化旺盛時(shí)期，正在發(fā)育的腦組織最易受損害，所以驚厥發(fā)病年齡越早，其智力低下的發(fā)生率可能會越高。
(3)嚴(yán)重驚厥引起的慢性持續(xù)性后遺癥
還有共濟(jì)失調(diào)、多動、癱瘓、癲癇、視聽障礙、語言障礙、輕微腦功能障礙綜合征。輕微腦功能障礙綜合征的表現(xiàn)為興奮狀態(tài)，行為異常，注意力不集中，情緒障礙，感覺異常，語言遲滯，學(xué)習(xí)困難等。
2.腦性癱瘓
小兒驚厥發(fā)作的持續(xù)時(shí)間越長，后來發(fā)生腦性癱瘓的可能性越大，并且中度或嚴(yán)重異常的腦電圖者發(fā)生腦性癱瘓的危險(xiǎn)性大。
3.智力障礙
新生兒驚厥后遺留智力障礙可能與出生5分鐘Apgar評分有關(guān)，其得分為0～3分者，45%有智力障礙;4～6分者，33%有智力障礙;7～10分者，只有11%有智力障礙。驚厥發(fā)作時(shí)間超過30分鐘、新生兒期肌強(qiáng)直和肌陣攣發(fā)作及驚厥發(fā)作的持續(xù)時(shí)間與智力障礙關(guān)系均很密切。
