CT檢查
典型有些嚴重的胼胝體發育不全，CT診斷不難，但對輕度或中度發育不良，有時由于層厚有些厚或間隔過大，橫軸位掃描，易于漏診。對有神經運動和智力障礙，疑有胼胝體發育不全者，掃描時應在Ⅲ室和側室水平將層厚減薄到3-5mm連續掃描。有些大的兒童或成年亦可用8-10mm層厚，但如有懷疑，仍需減薄到3-5mm。冠狀位有利于判斷Ⅲ室的位置。重建或直接矢狀位，更易顯示胼胝體全貌，一般不用增強掃描，但可提供另外有用信息。
CT表現
典型的駢眠體發育不全的CT表現如下：①大腦縱裂增寬與第三腦室前部相連。②雙側側腦室擴大、分離。③第三腦室擴大上升位于側腦室之間。④室間孔不同程度的擴大和分離。其中①為最常見和最可靠的直接征象，②、③和④為間接征象。
雙側腦室分離，第三腦室擴大、上升、介于雙側腦室之間，形似蝙幅翼狀。
胚胎發育的生理性腦積水，隨著腦組織生長腦室逐漸變小，當腦組織生長局部或普遍性受損害時，則導致局部或普遍性腦室擴大。胼胝體大多發育不良，引起枕角不成比例的明顯擴大。腦回呈放射樣排列的大腦半球側面，神經組織招疊，阻止了雙側腦室的靠近，使腦室分離，過量的腦組織形成多小腦回或側腦室內側面，尤其是靠近額角，腦組織的距離減少。使腦室分離，尤其是額角前部變窄，如臨近白質發育不良，導致額角呈莖樣，正常駢服體纖維呈水平狀排列，胼胝體發育不全時，呈縱向排列，所以側腦室內緣光滑，大致呈雙互平行走向。由于胼胝體外側束的壓跡可使側腦室內緣凹陷。異位神經組織聚集，阻止了放射狀纖維遷移，使腦室外側壁不規則。間腦發育不良導致Ⅲ室擴大和上升。神經組織，主要是白質發育不良，引起大腦半球縱裂增寬。
